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  • x-熒光光譜儀
    x-熒光光譜儀

    波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀能夠提供元素的定性和定量分析結(jié)果。通過比較樣品熒光信號(hào)與已知標(biāo)準(zhǔn)樣品的對(duì)比,可以確定樣品中存在的元素及其相對(duì)含量。這種技術(shù)在材料分析、環(huán)境監(jiān)測(cè)、地質(zhì)學(xué)、考古學(xué)和金屬檢測(cè)等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。

    更新時(shí)間:2023-10-06型號(hào):訪問量:1418
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  • 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀
    波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀

    波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀是一種用于分析材料中元素組成的儀器。它基于X射線的特性,通過激發(fā)樣品產(chǎn)生熒光,并測(cè)量不同元素所發(fā)射的特定波長(zhǎng)的熒光信號(hào)來鑒定和定量樣品中的元素。

    更新時(shí)間:2024-08-19型號(hào):訪問量:1449
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  • 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀
    波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀

    波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀是一種用于分析物質(zhì)成分的儀器。它利用X射線的特性來測(cè)量樣品中的元素含量。

    更新時(shí)間:2023-10-07型號(hào):ZSX Primus訪問量:884
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  • 日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀
    日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀

    日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀是一種用于分析物質(zhì)組成的儀器。它的原理基于X射線的特性和樣品中元素的能級(jí)結(jié)構(gòu)。

    更新時(shí)間:2023-10-13型號(hào):ZSX Primus IV訪問量:4810
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  • 日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀
    日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀

    波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀是一種科學(xué)儀器,用于分析物質(zhì)中的化學(xué)元素。它基于X射線熒光原理,通過照射樣品并測(cè)量由樣品發(fā)出的特定波長(zhǎng)的熒光輻射來確定樣品中存在的元素及其相對(duì)含量。

    更新時(shí)間:2023-10-06型號(hào):Supermini 200訪問量:3847
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  • 日本理學(xué)波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀
    日本理學(xué)波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀

    日本理學(xué)波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀ZSX Primus具有良好的性能和靈活性,能夠分析最復(fù)雜的樣品,它具有30微米的管子,這是業(yè)內(nèi)較薄的終端窗口管,用于檢測(cè)極低的光譜元素(低Z)。結(jié)合zui先jin的測(cè)試包檢測(cè)均勻性和包涵體,ZSX Primus可輕松對(duì)樣品進(jìn)行詳細(xì)調(diào)查,以提供其他分析方法不易獲得的分析見解。可用的多點(diǎn)分析還有助于消除不均勻材料中的采樣誤差。

    更新時(shí)間:2023-10-06型號(hào):ZSX Primus訪問量:3972
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  • 日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀
    日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀

    波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀在材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、環(huán)境監(jiān)測(cè)、金屬分析等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。它提供了一種快速、準(zhǔn)確、無損的方法來確定樣品中各種元素的含量,幫助科學(xué)家和工程師進(jìn)行研究和質(zhì)量控制。

    更新時(shí)間:2023-10-07型號(hào):ZSX Primus III+訪問量:3895
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  • 日本理學(xué)波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀
    日本理學(xué)波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀

    ZSX Primus III next,日本理學(xué)波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀X射線管位于分析樣品上方,減少了真空室內(nèi)飄散粉末損壞光管的風(fēng)險(xiǎn),并且無需在進(jìn)行粉末樣品

    更新時(shí)間:2024-08-06型號(hào):ZSX Primus III next訪問量:875
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