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日本理學波長色散X射線熒光光譜儀

簡要描述:波長色散X射線熒光光譜儀在材料科學、地質(zhì)學、環(huán)境監(jiān)測、金屬分析等領域得到廣泛應用。它提供了一種快速、準確、無損的方法來確定樣品中各種元素的含量,幫助科學家和工程師進行研究和質(zhì)量控制。

  • 產(chǎn)品型號:ZSX Primus III+
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時間:2023-10-07
  • 訪  問  量:3895

詳細介紹

品牌其他品牌行業(yè)專用類型其它
價格區(qū)間面議儀器種類臺式/落地式
應用領域環(huán)保,能源
  一、產(chǎn)品描述:
 
  X射線管位于分析樣品上方,zui大程du減少了真空室內(nèi)飄散粉末損壞光管的風險,并且無需在進行粉末樣品分析時使用粘合劑,使樣品制備更快捷簡便。
 
  可在慢速和快速直接切換抽真空和卸真空速率,使粉末和金屬樣品的樣品處理量達到理想狀態(tài)。
 
  該光譜儀使用波長色散技術,通過將入射的X射線束通過晶體進行衍射,使不同能量的X射線在探測器上形成不同位置的信號峰。這些信號峰對應于不同元素的特定能級躍遷。通過測量這些信號峰的強度和位置,可以確定樣品中各種元素的含量。
 
  波長色散X射線熒光光譜儀在材料科學、地質(zhì)學、環(huán)境監(jiān)測、金屬分析等領域得到廣泛應用。它提供了一種快速、準確、無損的方法來確定樣品中各種元素的含量,幫助科學家和工程師進行研究和質(zhì)量控制。
 
二、特點:
 
  1、實現(xiàn)粉末、固體樣品不同元素不同含量的高精度分析
 
  3、高精度定位樣品臺滿足合金分析高精度要求
 
  3、特殊光學系統(tǒng)減少樣品表面不平而引起的誤差
 
  4、樣品室可簡單移出方便清潔
 
  5、操作界面簡潔、自動化程度高
 
  三、 產(chǎn)品性能
 
  Rigaku ZSX Primus III +以很少的標準在各種樣品類型中快速定量測定從氧氣(O)到鈾(U)的主要和次要原子元素。
 
  1、高于光學元件的管道,可靠性更高
 
  ZSX Primus III +具有創(chuàng)新的光學上述配置。由于樣品室的維護,再也不用擔心被污染的光束路徑或停機時間。光學元件以上的幾何結構消除了清潔問題并延長了使用時間。
 
  2、高精度樣品定位
 
  樣品的高精度定位確保樣品表面與X射線管之間的距離保持恒定。這對于要求高精度的應用很重要,例如合金分析。ZSX Primus III +采用*的光學配置進行高精度分析,旨在最大限度地減少樣品中非平坦表面引起的誤差,如熔融珠和壓制顆粒
 
  3、使用EZ-scan軟件的SQX基本參數(shù)
 
  EZ掃描允許用戶在未事先設置的情況下分析未知樣品。節(jié)省時間功能只需點擊幾下鼠標并輸入樣品名稱。結合SQX基本參數(shù)軟件,它可以提供最準確,最快速的XRF結果。SQX能夠自動校正所有的矩陣效應,包括線重疊。SQX還可以校正光電子(光和超輕元素),不同氣氛,雜質(zhì)和不同樣品尺寸的二次激發(fā)效應。使用匹配庫和完mei的掃描分析程序可以提高準確度。
 
  四、特征:
 
  1、元素從O到U的分析
 
  2、管道上方的光學器件使污染問題最小化
 
  3、占地面積小,使用的實驗室空間有限
 
  4、高精度樣品定位
 
  5、特殊光學元件可減少曲面樣品表面造成的誤差
 
  6、統(tǒng)計過程控制軟件工具(SPC)
 
  7、吞吐量可以優(yōu)化疏散和真空泄漏率
 

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