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  • 錫膏測(cè)厚儀
    錫膏測(cè)厚儀

    SPI3D-AH錫膏測(cè)厚儀：錫膏印刷是SMT生產(chǎn)道工序，許多的質(zhì)量缺陷都與錫膏印刷質(zhì)量有關(guān)。監(jiān)測(cè)錫膏的厚度和 變化趨勢(shì)，不但是提高質(zhì)量降低返修成本的關(guān)鍵手段，而且是滿(mǎn)足ISO質(zhì)量體系對(duì)過(guò)程參數(shù)監(jiān)測(cè)記錄的要求，提高客戶(hù)對(duì)生產(chǎn)質(zhì)量信心的重要措施。

    更新時(shí)間：2024-04-09型號(hào)：SPI3D-AH訪問(wèn)量：993
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  • 日本Otsuka顯微分光膜厚儀
    日本Otsuka顯微分光膜厚儀

    日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 頭部集成了薄膜厚度測(cè)量所需功能 通過(guò)顯微光譜法測(cè)量高精度絕對(duì)反射率（多層膜厚度，光學(xué)常數(shù)） 1點(diǎn)1秒高速測(cè)量 顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外至近紅外） 區(qū)域傳感器的安全機(jī)制 易于分析向?qū)В鯇W(xué)者也能夠進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析 獨(dú)立測(cè)量頭對(duì)應(yīng)各種inline客制化需求 支持各種自定義

    更新時(shí)間：2023-10-07型號(hào)：OPTM SERIES訪問(wèn)量：1367
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  • 日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES
    日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES

    日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 頭部集成了薄膜厚度測(cè)量所需功能 通過(guò)顯微光譜法測(cè)量高精度絕對(duì)反射率（多層膜厚度，光學(xué)常數(shù)） 1點(diǎn)1秒高速測(cè)量 顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外至近紅外） 區(qū)域傳感器的安全機(jī)制 易于分析向?qū)В鯇W(xué)者也能夠進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析 獨(dú)立測(cè)量頭對(duì)應(yīng)各種inline客制化需求 支持各種自定義

    更新時(shí)間：2023-10-06型號(hào)：訪問(wèn)量：1001
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